X射线与产品质量检测和监控

2013-06-26 14:00-15:00(北京时间)
2013-06-26 14:00-15:00
GE检测控制技术(上海)有限公司

会议精彩回顾 (精彩会议视频已上线,欢迎观看

本次网络会议于2013年6月26日下午2-3点成功举行,来自用电气检测控制事业部中国区X射线产品经理张大磊先生给与会者带来了一场精彩演讲,会上张先生介绍了X射线的原理及设备的一些介绍,并和大家分享了X射线检测系统检测的视频

演讲结束后,张先生还就与会者的部分提问进行了口头回答。

X射线以其穿透力强,无须破环产品结构即可进行内部二维和三维缺陷检测和识别,并且可达到微米和纳米级水平,在产品质量检测和监控上得到越来越多的应用,尤其在电子元器件及芯片、汽车零部件、航空航天铸造件如叶片等质量检测上成为重要的手段。 其简洁的操作过程,即随着X射线穿透被检测样品,产品结构和缺陷状态可实时显示,配之以有效的尺寸测量工具和数据库管理,即可得到缺陷质量检测报告,已经被众多企业采用以提高产品质量,减少缺陷误判率。另外,随着X射线微纳米CT技术的发展和产品的问世,样品三维空间数据与逆向工程的结合,给科学研究带来创新性的突破,如新型材料复合材料,能源开发等。